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全自動高溫老化試驗(yàn)室是針對高性能電子產(chǎn)品模擬出高溫、惡劣環(huán)境測試的一種設(shè)備，是提高產(chǎn)品可靠性、穩(wěn)定性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，是各大高科技企業(yè)提高競爭性和產(chǎn)品質(zhì)量的一環(huán)重要生產(chǎn)流程，以此篩選出一些出廠前就未達(dá)標(biāo)的不良品，為生產(chǎn)環(huán)節(jié)找出問題、解決問題提供有效手段，提高企業(yè)生產(chǎn)效率、產(chǎn)品質(zhì)量、市場競爭。
電子產(chǎn)品在加工過程中，由于元器件物料的大量使用和經(jīng)歷了復(fù)雜的加工，難免帶有小缺陷（沒有任何東西是wan美無缺的）。無論是元器件缺陷還是加工缺陷，都可分為潛在缺陷或明顯缺陷。
潛在缺陷的產(chǎn)品在當(dāng)下是可以使用的，但在使用中缺陷會逐漸暴露出來，后面會導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動可能就會使焊點(diǎn)斷路。而明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。

明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗(yàn)手段檢驗(yàn)出來，可通過電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有快捷迅速、操作簡單、故障定位準(zhǔn)確的特點(diǎn)。而潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則本應(yīng)該被剔除的潛在缺陷產(chǎn)品后面流向市場，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加、企業(yè)口碑受到影響。