1.操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
2.2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性
3.適用于測試強化玻璃的球晶、金屬晶體和橫截面
4相位差測量儀易于獲取偏光顯微鏡數(shù)據(jù)資料?？蛇M行反射評價。

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。 

主要產(chǎn)品分四部分：

• n 光子晶體光學元件；
• 雙折射和相位差評價系統(tǒng)；
• 膜厚測試儀；
• 偏振成像相機。

『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列

• 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
• 相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布

PA/WPA系統(tǒng)特點：

• 操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
• 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
• 大相位差測試能力（WPA系列）：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進行計算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。

          偏光圖像傳感器的結(jié)構(gòu)和測試原理

顯微鏡視野內(nèi)的高相位差樣品的雙折射測量 WPA-MICRO

匹配顯微鏡測量雙折射測量光學薄膜、鋼化玻璃、有機晶體薄膜、大分子晶體、金屬晶體、不透明基板等材料

在顯微鏡視場下評估和管理雙折射分布。

產(chǎn)品特點：

 大測試范圍

曲線圖功能

CSV輸出格式

快軸/慢軸選擇

反射評估

l 適用于測試強化玻璃的球晶、金屬晶體和橫截面。

l 易于獲取偏光顯微鏡數(shù)據(jù)資料?？蛇M行反射評價。