當(dāng)前位置：儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> 超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡-neaSNOM
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neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了化的散射式核心設(shè)計技術(shù)，*的提高了光學(xué)分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性，neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點研究方向的科研設(shè)備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。近，neaspec公司成功開發(fā)了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統(tǒng)，將上述s-SNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強拉曼（TERS）、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進行聯(lián)用，可以為廣大科學(xué)工作者在等離子激元、二維材料聲子極化、半導(dǎo)體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等的研究上提供相關(guān)支持。
neaSNOM近場光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點和優(yōu)勢：
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
? 保護的散射式近場光學(xué)測量技術(shù)
—*的*10 nm空間分辨率
? 的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持*的信噪比
? 保護的干涉式近場信號探測單元
? 的贗外差干涉式探測技術(shù)
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
? 保護的反射式光學(xué)系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲
? 高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量
? 雙光束設(shè)計
—*的光學(xué)接入角：水平方向180°，垂直方向60°
? 操作和樣品準(zhǔn)備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程
neaSNOM近場光學(xué)顯微鏡重要應(yīng)用領(lǐng)域：
? 表面等離激元 ? 聲子極化激元 ? 石墨烯等離基元 ? 化學(xué)過程 | ? 光電流/太赫茲 ? 石墨烯 ? 六方氮化硼 ? 高分子/生物材料 |
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