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X射線熒光分析儀XGT-5200

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公司名稱 路易企業(yè)有限公司
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更新時(shí)間 2020/10/19 15:52:29
訪問(wèn)次數(shù) 84

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

Horiba X射線熒光分析儀是專門針對(duì)WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令），快速地測(cè)定電子部件中的有害元素的含量。它能對(duì)電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過(guò)CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測(cè)試點(diǎn)，操作非常簡(jiǎn)單。

X射線熒光是一種可對(duì)加工材料和部件進(jìn)行快速、無(wú)損掃描的檢測(cè)技術(shù)。分析時(shí)間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測(cè)低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨(dú)立進(jìn)行分析。

XGT-5200WR為WEEE/RoHS, ELV和中國(guó)RoHS特別設(shè)計(jì)，用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏度測(cè)量并帶有X射線顯微鏡功能。

◆ 400μm的X射線光斑，為有害元素的控制提供了高分辨率的掃描分析，適合小到IC集成塊單一引腳的分析。同時(shí)提供世界小光斑—10μm （可選配件）。

◆ SDD檢測(cè)器*地提高了分辨率和計(jì)數(shù)率，且無(wú)需使用液氮（LN₂）。

◆ 無(wú)需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。

◆ *整合的軟件可控制樣品的移動(dòng)，獲取數(shù)據(jù)分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。

◆ 樣品觀察采用同軸幾何呈象，可消除視差。