2015年，ASD公司（現(xiàn)隸屬于荷蘭帕納科）推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進(jìn)一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
更高分辨率的高光譜儀器可以協(xié)助用戶提高遙感分類應(yīng)用的精度，識(shí)別更多之前無(wú)法從高光譜圖像中獲取的點(diǎn)像元信息。為了充分發(fā)揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測(cè)量的光譜儀器必須滿足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達(dá)不到高光譜成像的要求，那么數(shù)據(jù)在后處理過程中會(huì)因插值而丟失重要的光譜信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿足下一代高光譜成像系統(tǒng)（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴(yán)格要求而設(shè)計(jì)。除了*的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，F(xiàn)ieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測(cè)器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進(jìn)行1875波段（編碼通道）的檢測(cè)，從而提供更小的采樣間隔（采樣帶寬），確保可以檢出樣品更細(xì)微的光譜特征。
優(yōu)點(diǎn)：
*為野外遙感設(shè)計(jì)
在太陽(yáng)作為光源的情況下，同時(shí)擁有更高光譜分辨率和更低等效輻射噪聲
光纖與主機(jī)嚴(yán)格固定，一體定標(biāo)，可溯源到美國(guó)NIST
外形美觀，堅(jiān)固耐用，人體工學(xué)設(shè)計(jì)，使用體驗(yàn)舒適方便
海量應(yīng)用文獻(xiàn)，數(shù)據(jù)庫(kù)完備，無(wú)縫兼容ENVI、TSG等更多的第三方工具軟件
性能指標(biāo)：
產(chǎn)品型號(hào) | FieldSpec 4 HR NG |
波長(zhǎng)范圍 | 350-2500 nm |
光譜分辨率 | 3 nm @ 700 nm
6 nm @ 1400/2100 nm |
等效噪聲輻射 | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
采樣間隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm |
雜散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.1 nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 0.5 nm |
大輻射 | VNIR 2 倍太陽(yáng)光, SWIR 10 倍太陽(yáng)光 |
輻射校準(zhǔn)精度 | < 3.5%@400="" nm,="">< 3%@700="" nm,="">< 3%@2200=""> |
數(shù)據(jù)輸出通道數(shù) | 2151 |
檢測(cè)器陣列通道數(shù) | 512@350-1000 nm, 520*2@1001-1800 nm, 520*2@1801-2500 nm |
檢測(cè)器 | VNIR 檢測(cè)器 (350-1000 nm): 512 像元硅陣列傳感器
SWIR 1 檢測(cè)器 (1001-1800 nm): InGaAs 檢測(cè)器, TE 制冷
SWIR 2 檢測(cè)器 (1801-2500 nm): InGaAs 檢測(cè)器, TE 制冷 |
掃描方式 | 固定及運(yùn)動(dòng)光柵組合分光 |
輸入 | 1.5 m 光纖(25° 視場(chǎng)). 可選前置鏡頭改變視場(chǎng)角 |
尺寸 | 12.7*36.8*29.2 cm |
重量 | 5.44 kg |
電腦 | Windows®7 64位筆記本（可選支持win8 / win10筆記本、平板電腦及三防手持?jǐn)?shù)據(jù)終端電腦） |
通訊 | 有線：10 / 100快速以太網(wǎng)接口，無(wú)線：802.11g 無(wú)線網(wǎng)卡 |
軟件 | RS3TM光譜數(shù)據(jù)收集軟件，與ENVI、ViewSpecTM Pro數(shù)據(jù)后處理軟件無(wú)縫兼容，可選Indico@Pro |
便攜性 | 人體工程野外背包（內(nèi)含防雨披及樣品艙），安全運(yùn)輸箱 |
可選配件 | 植物探頭、照明器、積分球、GPS等（詳見通用配件） |
制造商：英國(guó)ASD
