上圖為EN-AC-AlSi7Cu3Mg合金，在鑄造過程產(chǎn)生的氣泡缺陷，圖1-1為CLSM的光學(xué)明場(chǎng)像，圖1-2為SEM二次電子像，圖1-3為CLSM表面形貌像。所有圖片均為同一位置，借助CLSM的“shuttle&find”功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)同一區(qū)域的快速定位分析，同時(shí)其3D方向上的測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)可為實(shí)際工作提供更為準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

      目前利用CLSM,LM，SEM三者進(jìn)行原位觀察分析，在國外已經(jīng)深入開展起來，此外觀察時(shí)引入熱臺(tái)，借助LM的高分辨率成像，對(duì)很多以前所無法解釋到的科學(xué)現(xiàn)象可以實(shí)現(xiàn)合理的解釋。為科研、生產(chǎn)工作提供了*便利。

特點(diǎn)

      Shuttle（硬件解決方案）

      ●快捷方便的在光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡之間進(jìn)行樣品轉(zhuǎn)換。

      ●無需拆卸。

      ●無需噴金鍍膜：電荷補(bǔ)償技術(shù)、VP（低真空）技術(shù)及EP（超低真空）技術(shù)等為您解決了給非導(dǎo)體噴金鍍膜的麻煩和困擾。

      ●支持蔡司的所有SEM/CrossBeam?電鏡和Axio Imager，Axio Observer和SteREO Discovery系列的全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡之間的兼容。

      Find（軟件解決方案）

      ●控制光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡的AxioVision圖形用戶界面

      ●快速可靠地再現(xiàn)您所感興趣的分析區(qū)域

      ●光學(xué)顯微鏡和SEM/CrossBeam?電鏡的AxioVision功能

      ■圖像處理

      ■圖像分析

      ■文檔（制作）

較大的信息量-大的洞察力

      在光學(xué)領(lǐng)域超過160年的經(jīng)驗(yàn)奠定了卡爾.蔡司在電子及離子束顯微鏡領(lǐng)域的地位。的成像和分析功能集成系統(tǒng)提供了大量的信息，這要超過了僅是高分辨率所能提供的信息量。

      利用多方位的技術(shù)組合，卡爾· 蔡司為您提供的設(shè)備既可根據(jù)您的要求為您量身定制，同時(shí)也為您考慮了未來的升級(jí)需求。利用我們多功能的應(yīng)用解決方案，我們會(huì)努力成為您精挑細(xì)選之下的合作伙伴。

      具有優(yōu)質(zhì)的配置的地區(qū)性演示中心將為您提供應(yīng)用方面的專業(yè)技術(shù)，這些專業(yè)技術(shù)是我們與享有盛譽(yù)的產(chǎn)業(yè)界和學(xué)術(shù)界人士合作，并不斷完善的結(jié)果。