電卡效應(yīng)測(cè)試儀系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

電卡效應(yīng)測(cè)試儀性能參數(shù)：
溫度范圍: -50℃到200℃
溫度靈敏度: 20mK
熱流時(shí)間范圍: 1s-1000s
樣品形狀: 圓形
電壓: 可達(dá)10kV
P-E回線測(cè)試: 虛擬接地測(cè)試
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形



優(yōu)點(diǎn)：
一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的電卡、壓電和鐵電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù)，用戶支持

特點(diǎn)：
支持的硬件：
內(nèi)置或外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器（如激光干涉儀、電容或電感）
外置鎖相放大器或阻抗橋

測(cè)試功能：
大信號(hào)電極化和位移（單一極化和雙化）
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單一和雙極直流偏壓
電性能和機(jī)電性能隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形

軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過(guò)aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。

電卡效應(yīng)測(cè)試儀