Deben近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內(nèi)。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀察，并可配備溫度范圍高達600°C的可選的加熱/冷卻夾具。

2kN拉伸臺，用于SEM EBSD,可選加熱裝置

Deben近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內(nèi)。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀察，并可配備溫度范圍高達600°C的可選的加熱/冷卻夾具。

*應(yīng)用：

掃描電子顯微鏡（SEM）的EBSD

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