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返回產品中心>2016年推出的微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas，作為一款能量色散型X射線熒光分析儀（EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等諸多性能指標表現優(yōu)異，目前Atlas有兩個型號M和X（尺
電路板的X射線面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）
Atlas-M型號技術參數
樣品類型 | 固、液、顆粒、粉末 |
測試介質 | 空氣、真空、氦氣 |
激發(fā)源 | 12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
激發(fā)源參數： 靶材 束班尺寸 濾片 | 多毛細管或準直器 銠（其他可選） 5μm-1000μm連續(xù)可調 大8片 |
探測器 分辨率 活區(qū)面積 | SDD 135-145ev 50-150mm2 |
樣品臺 | X、Y、Z三軸可動 大320X320mm可移動范圍 大載重10Kg |
Mapping大尺寸 樣品移動速度 | 220X200mm 300mm/s |
元素分析范圍 | Na-U |
特點：
1、 束斑尺寸小可達5μm；
2、 大樣品臺行程（320×320×120mm），移動速度可達300mm/s；
3、 多達8片的濾波片選擇；
應用領域：
1、 地礦文博；
2、 電子器件；
3、 刑偵醫(yī)學；
4、 醫(yī)藥檢測；
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