Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載，外加直觀觸摸屏用戶界面上的測(cè)量。這些儀器可同時(shí)提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓（實(shí)現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率）并對(duì)其進(jìn)行測(cè)量，從而使用戶可以 Touch，Test，Invent®（觸摸、測(cè)試、創(chuàng)新）。

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400專(zhuān)用于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量 的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電 流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級(jí)的6位半。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬(wàn)用表的功能包括可重復(fù)性高 和低噪聲。最終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。 在工作時(shí)，這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電 流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車(chē)和醫(yī)療行業(yè) 的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特 性分析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。
 

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400主要特性

• 集5臺(tái)儀器的功能于一體（IV源、IVR 測(cè)量）
• 6種模式：20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA
• 源和阱（4象限）工作
• 0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度（6位半分辨率）
• 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測(cè)量感測(cè)
• 1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），通過(guò)GPIB
• 通過(guò)/失效比較器用于快速排序/分選
• 提供高速感測(cè)線接觸檢查功能
• 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制
• 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口
• 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件（下載）

Keithley吉時(shí)利 圖形化SMU數(shù)字源表2400典型應(yīng)用

設(shè)備：

• 分立半導(dǎo)體器件
• 無(wú)源器件
• 瞬變抑制器件
• IC、RFIC、MMIC
• 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器
• 電路保護(hù)器件：TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
• 氣袋
• 連接器、開(kāi)關(guān)、繼電器

測(cè)試：

• 漏電
• 低電壓/電阻
• LIV
• IDDQ
• I-V特性分析
• 隔離和印制線電阻
• 溫度系數(shù)
• 正向電壓、反向擊穿、漏電流
• 直流參數(shù)測(cè)試
• HIPOT
• 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例

型號(hào)	觸摸屏	通道	電流源/量程	電壓源/量程	測(cè)量分辨率（電流/電壓）	電源
2401	否	1	1A	20V	1pA / 100nV	20 W
2450	是	1	1A	200V	10fA/10nV	20 W
2400	否	1	1A	200V	1pA / 100nV	20 W
2460	是	1	7A	100V	1pA / 100nV	100 W
2420	否	1	3A	60V	10pA / 100nV	60 W
2461	是	1	10A	100V	1pA / 100nV	1000W
2470	Yes	1	1A	1100V	10fA / 100nV	20 W
2410	否	1	1A	1100V	1pA / 100nV	20 W
2440	No	1	5A	40V	10pA / 100nV	50 W

波形曲線分析解決方案

在 2400 系列圖形化 SMU 上安裝 I-V 記錄器軟件，在功能上替換 Tektronix 576 或 370 等傳統(tǒng)波形記錄器。無(wú)需配置掃描或連接到其他軟件，即可快速探尋兩端器件的特征。

制造大功率開(kāi)關(guān)

5G、汽車(chē)和替代能源市場(chǎng)對(duì)更高效高壓半導(dǎo)體的需求促使對(duì) SiC 和 GaN 等新技術(shù)的測(cè)試和研究日益復(fù)雜。您的測(cè)試設(shè)備需要發(fā)展以跟上步伐。

新推出的 2470 SMU 在擊穿電壓、泄漏電流、隔離測(cè)試、耐壓和介電耐壓測(cè)試等測(cè)量方面新增了多項(xiàng)功能，可讓您更快地了解情況。
 

使測(cè)量登上全新高度

SMU 儀器可捕獲更詳細(xì)的設(shè)備行為，并在擴(kuò)展范圍內(nèi)檢定設(shè)備，因此您能更好地了解設(shè)備，提高其質(zhì)量，改善其性能。

特點(diǎn)

• 6½ 位精確分辨率源和測(cè)量
• 1 M 個(gè)樣點(diǎn)/秒數(shù)字化測(cè)量速度
• 電流：10nA - 7A 直流，10A 脈沖
• 電壓：200mV - 200V
• 功率：可達(dá) 100W 直流 - 1000W 脈沖

直觀 UI。 智能且快速。

在直觀、多點(diǎn)觸控用戶界面上能測(cè)量、查看和發(fā)現(xiàn)更多細(xì)節(jié)，從原始讀數(shù)到直方圖，再到基于時(shí)間和基于電壓/電流的波形，并且能更快速地獲得答案。

特點(diǎn)

• 五英寸觸摸屏，具有精心設(shè)計(jì)的顏色組合和屏幕布局
• 簡(jiǎn)單的導(dǎo)航和一級(jí)菜單及設(shè)置
• 可存儲(chǔ) 2750 萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)，具有時(shí)間標(biāo)記，全部可在儀器上查看

緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)

通過(guò)在單臺(tái)裝置中連接源和測(cè)量電路，這些儀器能 提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測(cè)量?jī)x器構(gòu)建的系統(tǒng)。例如， 它們極大地縮短了測(cè)試站開(kāi)發(fā)，建立和維護(hù)所需的時(shí) 間，同時(shí)降低了購(gòu)買(mǎi)系統(tǒng)的整體成本。通過(guò)去除與使用 多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問(wèn)題，它們簡(jiǎn)化了測(cè)試 過(guò)程本身。而且，緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測(cè)試架或測(cè)試臺(tái)的寶貴“空間”。

集5種儀器功能于一體（IV源、IVR測(cè)量）

源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測(cè)試時(shí) 間，通過(guò)減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過(guò)載、熱失控 等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性。如果回讀 達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

I-V特性分析

所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象*，作為電源向負(fù)載輸出 功率。工作在第2和第4象*，作為阱（負(fù)載）吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè) 量電壓、電流和電阻。

自動(dòng)化以提高速度

吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測(cè)試的效率。它 能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，無(wú)需 更改連接，因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠 地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求， 數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的 測(cè)試序列，無(wú)需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通 信。

標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描

掃描方案采用自動(dòng)化鉤子（hook）極大加快 了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連 續(xù)工作，因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分 析。

• -線性階梯掃描：從起始電平到終止電平使用相等的線性步長(zhǎng)
• -對(duì)數(shù)階梯掃描：按照每十個(gè)單位的步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
• -定制掃描：通過(guò)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平，支持設(shè)立專(zhuān)用掃描
• -達(dá)1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），至GPIB總線
• -5000個(gè)讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中

內(nèi)建測(cè)試定序儀（源存儲(chǔ)器列表）

源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試，您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并 能實(shí)現(xiàn)無(wú)PC干預(yù)的運(yùn)行。

• -存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置，每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過(guò)/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
• -通過(guò)/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)
• -板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
• -內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)

測(cè)試	通過(guò)/失效測(cè)試	如果測(cè)試通過(guò)	如果測(cè)試失敗
測(cè)試 1	檢查VF1在100mA的通過(guò)/失效界限	轉(zhuǎn)到測(cè)試2	1. 將器件歸為不合格 2. 當(dāng)處理程序在放置新器件時(shí)，將數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī) 3. 返回測(cè)試1
測(cè)試 2	檢查VF2在1A的通過(guò)/失效界限	轉(zhuǎn)到測(cè)試3
測(cè)試 3	檢查在-500V的漏電流并測(cè)試通過(guò)/失效界限	1. 將器件歸為合格 2. 當(dāng)處理程序放置新器件時(shí)，將讀數(shù)發(fā)送至計(jì)算機(jī) 3. 返回測(cè)試1

數(shù)字I/O接口

數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序，包 括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括：

• 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用
• 內(nèi)建組件處理程序接口
• 測(cè)試開(kāi)始和測(cè)試結(jié)束信號(hào)
• 5V、300mA電源
• 可選擴(kuò)展器附件（2499-DIGIO型）增加16條數(shù)字I/O線

觸發(fā)鏈路接口

全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專(zhuān)有的觸發(fā)鏈路接口，能與許多吉 時(shí)利許多其它儀器建立高速、無(wú)縫的通信。例如，使用觸發(fā)鏈路接口 連接數(shù)字源表和7000系列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。在 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測(cè)試序列過(guò)程中，通過(guò)觸發(fā)鏈路，7000系 列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。

可選接觸檢查功能

在自動(dòng)測(cè)試序列開(kāi)始之前，接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn) 證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接 中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測(cè)量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能 的一些性能如下：

• 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間
• 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再 激活，進(jìn)而保護(hù)被測(cè)器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全 性威脅。
• 3個(gè)通過(guò)/失效閾值：2Ω、15Ω和50Ω
• 在工作過(guò)程中，沒(méi)有能量通過(guò)被測(cè)器件
• 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過(guò)GPIB使能
• 3種故障通知方法

6線歐姆電路。因?yàn)榇箅娏鞣雷o(hù)使R2兩端電壓為0V，所以全部測(cè)試電流通過(guò)R1。

的6線電阻測(cè)量方法

數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測(cè) 量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測(cè)量方法：

• 除了4線感測(cè)和源測(cè)試線之外，還使用防護(hù)和防護(hù)感測(cè)線。
• 鎖定并行電流路徑，當(dāng)測(cè)量電阻排或混合電路隔離被測(cè)元件時(shí)
• 允許用戶用2400系列源表簡(jiǎn)捷地配置和繪制數(shù)據(jù)，從而能輕易實(shí) 現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析