超低溫變形系數(shù)試驗(yàn)箱是模擬氣溫變化試驗(yàn)的設(shè)備，現(xiàn)實(shí)環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化，高氣溫是午后2時(shí)左右，低氣溫是日出前后。年變化，北半球陸地上7月份熱1月冷，海洋上8月份熱2月份冷；南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化，就是因?yàn)槿藶閷?dǎo)致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化，為了能提前預(yù)知產(chǎn)品的耐變性，所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗(yàn)箱回去做評(píng)估或者預(yù)測試驗(yàn)。
快速溫變試驗(yàn)箱適用于通訊、光電、航空航天等產(chǎn)品試驗(yàn)用，還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產(chǎn)品、材料、電子產(chǎn)品、各種電子電器元?dú)饧跍囟瓤焖俎D(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)其的各項(xiàng)性能指標(biāo)是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min （可選擇線性或非線性變化）。
超低溫變形系數(shù)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
GJB/150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。
GJB/150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)。
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。
GJB/150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)。
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化。
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。
