高低溫沖擊循環(huán)機(jī)與高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)是同款同功能同設(shè)計(jì)的試驗(yàn)機(jī)，由于部分客戶在做測(cè)試時(shí)用低溫沖擊試驗(yàn)功能多于高溫沖擊試驗(yàn)，所以他們則稱它為低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)或者低溫沖擊機(jī)，當(dāng)然也可以縮短叫沖擊試驗(yàn)機(jī)。

高低溫沖擊循環(huán)機(jī)與高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)是同款同功能同設(shè)計(jì)的試驗(yàn)機(jī)，由于部分客戶在做測(cè)試時(shí)用低溫沖擊試驗(yàn)功能多于高溫沖擊試驗(yàn)，所以他們則稱它為低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)或者低溫沖擊機(jī)，當(dāng)然也可以縮短叫沖擊試驗(yàn)機(jī)。

高低溫沖擊循環(huán)機(jī)的用途：

該試驗(yàn)箱主要是測(cè)試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，對(duì)電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試或試驗(yàn)，大概詳情如下：

1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況。

2.生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息。

3.對(duì)電子產(chǎn)品的定型進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收。

4.暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理。

5.為改進(jìn)電子產(chǎn)品的可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

的參照標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫。

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn)。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式。

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式。

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)。

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)。

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化。

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法。

GB/T 2423.22-2002溫度變化。

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則。

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。