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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱榮計(jì)達(dá)GDC系列

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公司名稱 上海榮計(jì)達(dá)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2023/7/26 9:00:18
訪問次數(shù) 161

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促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測試材料瞬間溫低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測試材料瞬間溫至極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、采用氣動(dòng)控制，提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，
2、轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，
3、采用兩箱法，新一代外觀設(shè)計(jì)，整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。
4、既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。
5、備有高檔萬向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
6、真空雙層加熱觀察窗，自帶照明。
7、多數(shù)據(jù)接口，SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦APP遠(yuǎn)程操作。
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
1、提籃有效容積 27L
2、規(guī)格尺寸：外寬深高：750×2100×1900mm，內(nèi)520×600×600mm
3、提籃尺寸：300×300×300mm
4、高溫預(yù)溫度范圍：60℃～+180℃
5、低溫預(yù)溫度范圍：-10℃～-60℃
6、溫度沖擊范圍：-40℃～+120℃
7、提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S
8、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min
9、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
10、溫度均勻度：≤2℃
11、溫度偏差：≤±2℃
12、高溫預(yù)熱時(shí)間：20℃～180℃≈30min、
13、低溫預(yù)冷時(shí)間：20℃～-60℃≈75min
14、總功率：≈12kw
15、運(yùn)行功率：≈8KW
16使用電壓：AC220 50Hz

規(guī)格	提籃尺寸	外形尺寸
27L	300×300×300	750×2100×1900
80L	400×400×500	1200×2500×1800
150L	500×500×600	1500×2600×1850
210L	600×500×700	1700×2650×1900
510L	800×800×800	2500×3200×2100
1000L	1000×1000×1000	3000×3500×2100
溫度參數(shù)	高溫預(yù)溫度范圍	60℃~+200℃
	低溫預(yù)溫度范圍	-10℃~-80℃
	沖擊范圍	-40、-50、-65℃~120、150℃ 按要求選定
	溫度恢復(fù)時(shí)間	≤5min
	溫度波動(dòng)度	≤±0.5℃
	溫度均勻度	≤2℃
	溫度偏差：	≤±2℃
提籃運(yùn)行	運(yùn)動(dòng)方式	氣動(dòng)
提籃運(yùn)行	提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間	≤10S
安全保護(hù)	漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)/控制器停電記憶

滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)