Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系統(tǒng)是一種發(fā)射光譜儀，專為要求嚴(yán)格的高通量實驗室而設(shè)計。利用該系統(tǒng)，您可以在更短時間內(nèi)以低于其他任何 ICP-OES 儀器的樣品成本獲得可靠答案。
憑借創(chuàng)新的自由曲面光學(xué)設(shè)計與包含眾多內(nèi)置傳感器、算法和診斷功能的智能化監(jiān)控體系，以及針對提高通量而進(jìn)行的全面優(yōu)化，5900 SVDV ICP-OES 可確保讓您在競爭中脫穎而出。
采用同步垂直雙向觀測 (SVDV)，實驗室能夠以較低成本運(yùn)行更多樣品，該觀測模式憑借的智能光譜組合技術(shù) (DSC)，可在一次讀數(shù)過程中同時獲得軸向和徑向的等離子體觀測數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)高速高效的樣品分析，確保復(fù)雜基質(zhì)樣品的分析準(zhǔn)確度。
使用 5900 ICP OES 隨附的集成式高級閥系統(tǒng) (AVS)，加快分析速度并大大減少氬氣用量，同時實現(xiàn)高精度的分析。
在數(shù)秒內(nèi)開始采集數(shù)據(jù)，無需選擇使用 IntelliQuant Screening 分析的元素或波長
使用安捷倫的 IntelliQuant 功能，了解有關(guān)樣品的更多信息。IntelliQuant 能夠采集整個波長范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)，識別光譜干擾并為您提供建議，確保您始終獲得準(zhǔn)確結(jié)果。
通過傳感器和計數(shù)器進(jìn)行智能儀器狀態(tài)追蹤，并在系統(tǒng)需要維護(hù)時為用戶提供指導(dǎo)，助您有效縮短停機(jī)時間、降低維護(hù)成本。
Neb Alert 功能可持續(xù)監(jiān)測霧化器，并在霧化器需要清潔或發(fā)生泄漏時提醒您，從而避免時間浪費(fèi)和故障排除成本。
內(nèi)置于 ICP Expert 軟件的智能算法使方法開發(fā)更有據(jù)可依，并能實現(xiàn)自動化故障排除，包括：擬合背景校正 (FBC)、快速自動曲線擬合技術(shù) (FACT)、元素間干擾校正 (IEC)、IntelliQuant 和智能沖洗。
利用 ICP Expert Pro 軟件提高分析效率和增強(qiáng)質(zhì)量控制，該軟件為用戶提供了實時導(dǎo)出到 Microsoft Excel、自定義重復(fù)檢測、集成的 prepFAST 自動稀釋器操作、速率驅(qū)動的 QC 以及其他高級軟件功能。
的智能光譜組合技術(shù)
Agilent 5900 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 具有的智能光譜組合技術(shù) (DSC) 。DSC 允許從等離子體軸向觀測捕獲痕量元素發(fā)射的光。同時，它還能從等離子體徑向觀測捕獲由典型的較高豐度元素 Na 和 K 發(fā)射的光。在一次測量中完成兩種觀測，并以的速率提供準(zhǔn)確的結(jié)果。
利用 SVDV 模式可消除進(jìn)行一系列軸向和徑向順序測量以及復(fù)雜方法開發(fā)的需求。
縮短停機(jī)時間
利用垂直定位的炬管測量總?cè)芙鈶B(tài)固體含量高的樣品時炬管上的沉積物更少。沉積物更少意味著減少了清潔需求、縮短了停機(jī)時間并降低了所需備用炬管的消耗。
同時使用垂直炬管的軸向和徑向觀測，可以在測量 Na 和 K 等高濃度元素的同時測量痕量元素。
垂直炬管適用于 5800 和 5900 ICP-OES 儀器，該設(shè)計能夠?qū)崿F(xiàn)對復(fù)雜樣品的穩(wěn)定測定
降低維護(hù)及使用成本
由于 5900 SVDV ICP-OES 只需一次測量即可獲得樣品中所有觀測模式的結(jié)果，因此其分析速率比其他任何 ICP-OES 儀器都快?？焖贉y量意味著氬氣消耗量更少。而更少的氬氣消耗量則意味著成本的降低。
例如，在 5900 儀器的 SVDV 模式下使用 US EPA 200.7 方法測量單個水樣需要消耗 20 L 氬氣，在 5800 的雙向觀測模式下則需要 27 L，而競爭對手儀器的氬氣消耗量則超過了 40 L。
