產品介紹

全新 M6 — — 飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）科技

M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開發(fā)的新一代飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質量分析器（TOF Analyser）進行了突破性的改進。

此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設計了加熱和冷卻系統(tǒng)；在軟件方面新增了多元統(tǒng)計分析（MVSA）軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領域的性能。

新的突破性離子束和質量分析器技術使 M6 成為二次離子質譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業(yè)和學術研究的理想工具。

全新 M6 具有以下突出優(yōu)勢：

1      新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50="">

2      質量分辨率 > 30,000

3      的延遲提取模式可同時實現(xiàn)高傳輸，高橫向質量

4      廣域的動態(tài)范圍和檢測限

5      用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

6      智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括集成的多元統(tǒng)計分析 (MVSA) 軟件包

7      新型靈活按鈕式閉環(huán)樣品加熱和冷卻系統(tǒng)，可長期無人值守運行