奧林巴斯GX53倒置顯微鏡使用范圍非常廣，常見于鋼鐵、汽車、電子及其它制造行業(yè)
奧林巴斯GX53倒置顯微鏡使用范圍非常廣，常見于鋼鐵、汽車、電子及其它制造行業(yè)。僅僅將打磨后的金屬及截面試樣倒置于顯微鏡鏡臺上，用戶就可對試樣進行檢驗。樣本不需要放平，也可以觀察較厚、較大、較重樣品。
奧林巴斯GX53給出的清晰圖像，采用傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法則難以捕捉到。與 OLYMPUS 流圖像分析軟件相結合，顯微鏡簡化了從觀察到圖像分析和報告的檢驗過程。
的分析工具。
奧林巴斯GX53顯微鏡的各種觀察性能提供清晰的圖像，所以用戶可對試樣進行可靠的缺陷檢測。OLYMPUS圖像分析軟件的新型照明技術和圖像采集選項為用戶評估試樣和記錄檢驗結果提供了更多的選擇。
不可見變?yōu)榭梢姡夯旌霞夹g
通過將暗視野及其它觀察方法如明視野或偏光結合起來，混合技術可以生成的觀察圖像?；旌霞夹g可使用戶觀察到使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的試樣，甚至展示出試樣表面上的更小高度差。用于暗視野觀察的圓形 LED 照明器有一個定向暗視野功能，可以在給定時間內照明一個或多個象限。這就減少了試樣的暈光，并有助于將其表面紋理可視化。
強調用戶舒適度的設計
顯微鏡的人體工學設計使得用戶的工作體驗更佳舒適，以進行更有效的檢查。當與OLYMPUS stream軟件配合使用時，操作員可以輕松獲取不同試樣的圖像，進行各種分析，并生成專業(yè)報告。
輕松切換觀察方法
顯微鏡支持明視野、暗視野、鑒別干涉對比（DIC）以及簡單的偏振光觀察。
使用專用操縱桿在明視野和暗視野之間快速切換。
增加 DIC僅需要增加一個滑塊。
豐富配件選擇
濾光片將試樣曝光光線轉化為各種類型的照明。根據您的觀察需求選擇合適的濾光片。
顯微組織中的晶粒尺寸測量晶粒尺寸和分析鋁、鐵素體和奧氏體等鋼的晶體結構以及其他金屬的顯微組織。支持標準：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T鐵素體晶粒的顯微組織
晶粒度截線法解決方案 第二相的晶粒度面積法解決方案
顆粒分析 – 計數和測量解決方案
計數和測量解決方案使用高級閾值法，能夠可靠地分離目標（如顆粒和劃痕）與背景?？墒褂贸^50種不同的參數對樣品進行測量或評級，包括形狀、大小、位置和像素特性等。
常規(guī)軟件晶界不清晰
侵蝕后 的鋼的顯微組織（原始圖像）
奧林巴斯Stream晶界清晰可辨
評估石墨球化率評估鑄鐵樣品（球墨/蠕墨）的石墨球化率及含量。對石墨節(jié)點的形態(tài)、分布和大小歸類。支持標準：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T顯示球狀石墨結構的延性鑄鐵
鑄鐵解決方案
解決方案 | 支持標準 |
截點法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
面積法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
鑄鐵 | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
夾雜物視場 | ISO 4967 (方法 A): 2013, JIS G 0555 (方法 A): 2003, ASTM E45 (方法 A): 2013, EN 10247 (方法 P 和 M): 2007, DIN 50602 (方法 M): 1985, GB/T 10561 (方法 A): 2005, UNI 3244 (方法 M): 1980 |
標準評級圖對比 | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998 |
涂層厚度 | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001 |
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