總體描述

為對(duì)任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生
蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測(cè)效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

技術(shù)參數(shù)：

Gemini 1 –成熟的Gemini技術(shù)概覽
場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的分辨率，離不開其性能優(yōu)異的電子光學(xué)鏡筒。蔡司Gemini技術(shù)專為對(duì)任意樣品進(jìn)行高分辨成像設(shè)計(jì)，尤其在低電壓下保持完整和高效的探測(cè)系統(tǒng)、出色的分辨率和易用性等特點(diǎn)。
蔡司Gemini電子光學(xué)鏡筒具有以下三個(gè)主要特點(diǎn)
蔡司Gemini物鏡的設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電場和磁場，在提高其電子光學(xué)性能的同時(shí)將它們對(duì)樣品的影響降至更低。無漏磁物鏡設(shè)計(jì)，可以對(duì)如磁性材料等挑戰(zhàn)的樣品同樣地進(jìn)行高品質(zhì)成像；
蔡司Gemini電子束推進(jìn)器技術(shù)，讓電子束經(jīng)過加速后以高電壓通過鏡筒，最終再減速至設(shè)定電壓后進(jìn)入樣品倉，很大程度地減小電子束的像差，保證了在非常低的加速電壓下仍可獲得小束斑和高信噪比；
蔡司Gemini 鏡筒的設(shè)計(jì)理念將Inlens二次電子（SE）和背散射電子（BSE）探測(cè)器均放置在鏡筒內(nèi)正光軸上，使兩者均具有更高的信號(hào)采集效率且可以同時(shí)成像，有效的縮短了獲取圖像的時(shí)間，更好地提高工作效率。
蔡司Gemini技術(shù)優(yōu)勢(shì)能為您提供以下便利：
經(jīng)校準(zhǔn)后的鏡筒具有長期的穩(wěn)定性，您在日常使用時(shí)只需要簡易地設(shè)定基本的參數(shù)，如加速電壓、探針電流等；
無漏磁的物鏡設(shè)計(jì)，可對(duì)包括磁性樣品在內(nèi)的各類型樣品進(jìn)行無畸變、高分辨率的成像；
Inlens二次電子探測(cè)器具有高效的SE 1信號(hào)采集效率，給您呈現(xiàn)來自樣品極表面的真實(shí)形貌圖像；
鏡筒內(nèi)能量過濾背散射探測(cè)器以其創(chuàng)新的設(shè)計(jì)理念，使您在低電壓下可獲得高分辨率、高襯度、以及更真實(shí)的樣品材料襯度圖像。

特點(diǎn)：

更強(qiáng)的信號(hào)，更豐富的細(xì)節(jié)
GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時(shí)快速地獲取更高清晰度的圖像。
更高的速度與靈敏度，更好的成像和分析
GeminiSEM 450更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對(duì)樣品進(jìn)行表面成像和分析，簡便、快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析，同時(shí)保持出色的空間分辨率，充當(dāng)您的得力助手。
更靈活的成像方式
無論是用戶還是初學(xué)者，GeminiSEM 300將讓您體驗(yàn)到在更高的分辨率和更佳的襯度下進(jìn)行極大視野范圍成像的樂趣，并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實(shí)現(xiàn)。