MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能*

MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能^*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內的小孔（Pinhole）。

應用范圍

• 腫瘤檢測
• 珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分
• 地質研究

• 法學：筆跡鑒定、檢測等

• 
  

定制顯微鏡

MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據需求自行挑選。同時，由于應用領域的多樣性，客戶對系統(tǒng)性能的側重點各不相同，該系統(tǒng)對此提供定制服務，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數