XTU-BL X熒光光譜儀
型號：XTU-BL
- 測量面積：最小0.002mm²
- 鍍層分析：23層鍍層24種元素
- 儀器特點(diǎn)：可手動變焦
- 儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析
- 服務(wù)宗旨：專注研發(fā)，專業(yè)生產(chǎn)，專精服務(wù)
儀器簡介：
XTU-BL是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。
該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
技術(shù)參數(shù)：
1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）
2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）
3. 厚度檢出限：0.005μm
4. 成分檢出限：1ppm
5. 最小測量直徑0.05mm（最小測量面積0.002mm²）
6. 對焦距離：0-30mm
7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量：50KG
10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm
11. XY軸工作臺承重：20KG
應(yīng)用領(lǐng)域：
多元迭代EFP核心算法（號：2017SR567637）
專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可精準(zhǔn)測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。
選擇一六儀器的四大理由：
1.一機(jī)多用，無損檢測
2.最小測量面積0.002mm²
3.可檢測凹槽0-30mm的異形件
4.輕元素，重復(fù)鍍層，同種元素不同層亦可檢測
配置清單：
