粗糙度儀測量平臺TA610齒條升降

粗糙度儀測量平臺TA610

齒條升降，立柱可以隨意轉(zhuǎn)動，用來
測量不容易放置的工件，可提高測量精度
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
垂直升降高度：270mm
垂直升降微調(diào)量：20mm

粗糙度儀測量平臺TA620

絲桿升降，平臺上設(shè)置V型槽，用來測
量形狀較小的工件，可提高測量精度
花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
垂直升降高度：300±1mm
升降回程誤差：≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈

粗糙度儀測量平臺TA650|TR300專用

垂直方向上的升降高度：300±1mm
微調(diào)由儀器上的可調(diào)支架完成
垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度：±45°
回程誤差：不大于手輪的1/6圈
平臺的平面度：00級|平面公差值3μm
平臺尺寸：600×420×80 mm
總高度：695 mm