第三屆新型光電探測技術(shù)及其應(yīng)用研討會
探測技術(shù)是現(xiàn)代信息獲取的主要手段之一,探測技術(shù)的發(fā)展是隨著其他關(guān)鍵技術(shù)的發(fā)展而發(fā)展的,由于激光技術(shù)、光波導(dǎo)技術(shù)、光電子技術(shù)、光纖技術(shù)、計算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,以及新材料、新器件、新工藝的不斷涌現(xiàn),探測技術(shù)取得了巨大發(fā)展。近年來,探測技術(shù)引起了業(yè)內(nèi)人士的普遍關(guān)注,在軍事和民用領(lǐng)域占有越來越重要的地位。
繼前兩屆新型探測技術(shù)及其應(yīng)用研討會成功召開之后,應(yīng)廣大專家和代表要求,組委會將于2016年11月在西安市繼續(xù)舉辦“第三屆新型光電探測技術(shù)及其應(yīng)用研討會”,深入研討近年來涌現(xiàn)出的各種新型探測技術(shù),包括微光探測、偏振探測、量子探測、單光子探測技術(shù)等。以促進(jìn)我國新型光電探測技術(shù)及相關(guān)產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)、健康發(fā)展。誠摯歡迎國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的科研人員、教師、研究生等踴躍投稿。
主辦單位:
國家自然基金委員會
中國工程院信息與電子工程學(xué)部
中國光學(xué)工程學(xué)會
微光夜視技術(shù)重點實驗室
承辦單位:
中國光學(xué)工程學(xué)會
中國宇航學(xué)會光電技術(shù)專業(yè)委員會
紅外與微光技術(shù)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟
聯(lián)辦單位:
北京仿真中心、北京理工大學(xué)、長春理工大學(xué)
征文方向:
紫外探測技術(shù)及應(yīng)用
微光探測技術(shù)及應(yīng)用
單光子探測技術(shù)及應(yīng)用
紅外探測技術(shù)及應(yīng)用
太赫茲探測技術(shù)及應(yīng)用
激光探測技術(shù)及應(yīng)用
可見光探測技術(shù)及應(yīng)用
偏振探測技術(shù)及應(yīng)用
量子探測技術(shù)及應(yīng)用
多光譜/高光譜/超光譜探測技術(shù)及應(yīng)用
復(fù)合探測技術(shù)及應(yīng)用
空間探測技術(shù)及應(yīng)用
信號處理與檢測
其他應(yīng)用
論文發(fā)表:投稿請登錄:http://events.kjtxw.com/tougao/1426493004.html,中英文兼收。
請作者登錄網(wǎng)站提交論文全文,組委會請專家進(jìn)行審稿。通過審查的稿件被大會錄用。擇優(yōu)推薦到正式出版物發(fā)表。英文稿件,將被SPIE會議論文集(EI檢索)收錄。中文稿件推薦至《紅外與激光工程》(EI)、《光學(xué)精密工程》(EI)、《強(qiáng)激光與粒子束》、《中國光學(xué)》(科技核心期刊)、《太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報》(科技核心期刊)正刊出版。
投稿截止時間:2016年9月30日
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