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簡介：X熒光光譜鍍層測厚儀，型號(hào)：XRF-D8，標(biāo)配美國進(jìn)口SDD探測器，測試范圍：鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范圍：0.0035um--40um。

簡介：金屬鍍層厚度分析儀標(biāo)配美國進(jìn)口新一代SI-P探測儀，測試范圍：硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍：0.0035um--40um。

簡介：鄰苯二甲酸酯檢測儀能準(zhǔn)確定量分析REACH指令中的鄰苯二甲酸鹽，EN71玩具指令里面的甲醛、多環(huán)芳烴；雙酚A、偶氮燃料、芳香胺等含量。

簡介：X熒光光譜儀主要應(yīng)用：RoHS指令限制的有害物質(zhì)，鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價(jià)鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚；鹵素；玩具等行業(yè)限定的8大重金屬，鎘（Cb）、鉛（Pb）、汞（Hg）、鉻（Cr）、銻（S...

簡介：在貴金屬檢測領(lǐng)域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險(xiǎn)性，且樣品的制備過程耗時(shí)更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟，可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測,不需要任...

簡介：鋼鐵成分分析儀采用X熒光光譜技術(shù)，標(biāo)配美國進(jìn)口SDD探測器，元素測試范圍：鎂Mg-鈾U.各種合金成分分析，檢測限zui高可達(dá)1PPM.

簡介：XRF-M8X熒光光譜合金分析儀，標(biāo)配美國進(jìn)口SDD探測器，元素測試范圍：鎂Mg-鈾U.各種合金成分分析，檢測限zui高可達(dá)1PPM.

簡介：銅合金分析光譜儀XRF-M7000，采用X熒光光譜技術(shù)，標(biāo)配美國進(jìn)口SI-P探測器，快速、準(zhǔn)確分析銅合金各成分含量，如：各種牌號(hào)的黃銅、各種牌號(hào)的青銅、各種牌號(hào)的白銅，檢測限zui高可達(dá)2PPM.

簡介：經(jīng)濟(jì)型ROHS檢測儀XRF-W6，價(jià)格實(shí)惠型ROHS檢測儀?？焖佟o損、準(zhǔn)確檢測ROHS有害物質(zhì)：鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、多溴聯(lián)苯PBB、多溴二苯醚PBDE?？焖佟o損、準(zhǔn)確檢測無鹵指令鹵...

簡介：ROHS2.0全套檢測設(shè)備，ROHS檢測儀XRF-W7和鄰苯4P檢測儀LC-2800XRF光譜儀+鄰苯4P檢測儀LC-2800以及檢測鄰苯4P的前處理設(shè)備，天平、粉碎機(jī)、烘箱、超聲提取、標(biāo)準(zhǔn)樣品等...