相關(guān)產(chǎn)品分類
- +電子顯微鏡
- +光學(xué)顯微鏡
- +光學(xué)測量儀
- +光學(xué)實驗設(shè)備
- +光學(xué)成像設(shè)備
- +其它光學(xué)儀器及設(shè)備
最新產(chǎn)品
相關(guān)技術(shù)文章
-
EDAX EBSD Hikari 電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）
面議0簡介：電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）特點與優(yōu)勢：數(shù)據(jù)采集率高達(dá)每秒1400個標(biāo)定點。可在數(shù)分鐘內(nèi)完成分布圖采集，利于高效使用SEM。在整個SEM運(yùn)行條件范圍內(nèi)均有優(yōu)質(zhì)性能。
阿美特克商貿(mào)（上海）有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：上海市我要詢價 -
EDAX EBSD Velocity 電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）
面議0簡介：電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）提供具有高標(biāo)定性能的材料高速采集面分布圖。通過采用CMOS傳感器，VelocityTM將高靈敏性、低嗓聲性能以及快速采集結(jié)合為一體，實現(xiàn)了采集速度與數(shù)據(jù)質(zhì)量的優(yōu)化。
阿美特克商貿(mào)（上海）有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：上海市我要詢價 -
有研總院 電子背散射衍射（EBSD）
面議0簡介：EBSD（電子背散射衍射）技術(shù)主要用于快速獲取晶體材料的晶體學(xué)信息，可對材料進(jìn)行織構(gòu)和晶粒間取向差分析，晶粒尺寸及形狀分布分析，晶界、亞晶及孿晶分析，應(yīng)變和再結(jié)晶的分析，以及相鑒定和相含量計算等，...
國家有色金屬及電子材料分析測 會員等級: 產(chǎn)地：北京市我要詢價 -
電子背散射衍射EBSD
面議0簡介：QUANTAXEBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶，具有簡潔易用和多功能的特點。無論是單機(jī)分析還是與EDS一體化集成，CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中，...
鉑悅儀器（上海）有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：上海市我要詢價