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簡介：白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。

簡介：TF200白光干涉測厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速...

簡介：設(shè)備亮點1、探頭采用美國進口的探頭，穩(wěn)定、可靠、精度高

簡介：MarSurfWI系列是Mahr研發(fā)光學(xué)3D表面輪廓儀產(chǎn)品，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器

簡介：Profilm3D/Profilm3D-200價格合理、的光學(xué)輪廓儀

簡介：白光干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器

簡介：產(chǎn)品簡介DCM8光學(xué)表面測量系統(tǒng)-3d形貌測量顯微鏡什么是3d形貌測量顯微鏡？3D形貌顯微鏡是一種用于材料科學(xué)、機械工程領(lǐng)域的分析儀器，具有圖像快速處理、分析和測量功能，可提供高襯度、高分辨率、大...

簡介：SuperViewW1國產(chǎn)3D白光干涉儀結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的...

簡介：SuperViewW1白光干涉三維光學(xué)輪廓儀分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，適用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面...

簡介：SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學(xué)測量，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表...