儀器特性及優(yōu)勢

XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移
快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量
無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡分析儀
熱插拔模塊 — 幾分鐘內即可完成更換，不會影響性能

儀器簡介

采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時間，使實驗室分析時間zui小化。

XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實驗室監(jiān)測而設計的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應用和生產(chǎn)線的測量。

有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（zui高可達 200 °C），提高了實驗室效率。

XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉移。

使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成精準的分析。