數(shù)字式立式光學(xué)計 立式光學(xué)計
型號：GH/JDG-S2
數(shù)字式立式光學(xué)計儀器的主要用途 --- JDG-S2數(shù)字式立式光學(xué)計是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形
及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨(dú)立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對
被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
JDG-S2數(shù)字式立式光學(xué)計 主要技術(shù)指標(biāo):
被測件zui大長度
180mm
測量范圍
≥±0.1mm
zui小顯示值
0.0001mm
測量力
(2 ± 0.2)N
示值變動性
0.0001mm
zui大不確定度
±0.00025mm
儀器體積
300 ×170 × 410 mm
儀器重量
18㎏
讀數(shù)方式
數(shù)字顯示
zui大測量誤差
±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計
標(biāo)準(zhǔn)配件
可調(diào)帶筋園臺
可調(diào)園平臺
帶筋固定方臺
平面測帽φ2
平面測帽φ8
小球面測帽
刃形測帽
儀器的主要用途 --- 是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形
及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨(dú)立體，在科研，生產(chǎn)過程控制及在線測量等方面，對
被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
主要技術(shù)指標(biāo):
被測件zui大長度
180mm
測量范圍
≥±0.1mm
zui小顯示值
0.0001mm
測量力
(2 ± 0.2)N
示值變動性
0.0001mm
zui大不確定度
±0.00025mm
儀器體積
300 ×170 × 410 mm
儀器重量
18㎏
讀數(shù)方式
數(shù)字顯示
zui大測量誤差
±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計
標(biāo)準(zhǔn)配件
可調(diào)帶筋園臺
可調(diào)園平臺
帶筋固定方臺
平面測帽φ2
平面測帽φ8
小球面測帽
刃形測帽
