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參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 克拉克中國(guó)
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/12/3 18:00:00
- 訪問(wèn)次數(shù) 629
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激光測(cè)振儀(進(jìn)口)位移分辨率高達(dá)0.008納米。測(cè)量物體振動(dòng)的速度,加速度,位移,運(yùn)動(dòng)軌跡,頻率.全場(chǎng)激光測(cè)振實(shí)現(xiàn)整面物體的XY軸的振動(dòng)測(cè)量可以彩色動(dòng)畫輸出。三維激光測(cè)振可以實(shí)現(xiàn)三軸振動(dòng)測(cè)量。多點(diǎn)激光測(cè)振可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)16個(gè)振動(dòng)點(diǎn)振動(dòng)并可以測(cè)量物體瞬間振動(dòng)和實(shí)時(shí)的振動(dòng)模擬
白光干涉儀:非接觸式三維表面形狀測(cè)量?jī)x可以沿垂直軸方向?qū)Ρ粶y(cè)物體進(jìn)行掃描,它采用光學(xué)干涉技術(shù),精密測(cè)量樣品的表面形狀分布。
與共聚焦顯微鏡、調(diào)焦顯微鏡等三維表面測(cè)量技術(shù)相比,該表面形狀測(cè)量?jī)x具有更高的垂直分辨率。
Sunny VSI三維表面形狀測(cè)量?jī)x可安裝在配套的三維數(shù)控平臺(tái)上,實(shí)現(xiàn)橫向掃描。
系統(tǒng)構(gòu)成
1)光學(xué)照明系統(tǒng)
2)光學(xué)成像系統(tǒng)
3)垂直掃描控制系統(tǒng):
4)信號(hào)處理系統(tǒng):
5)應(yīng)用軟件:
6)顯示器
應(yīng)用領(lǐng)域
LED晶片基板測(cè)量
表面粗糙度/平整度分析
硬盤懸臂焊接點(diǎn)的直徑測(cè)量
太陽(yáng)能電池紋理缺陷檢測(cè)
參數(shù) 白光干涉儀型 號(hào) Sunny VSI
垂直測(cè)量分辨率 0.05um
橫向測(cè)量分辨率 2.767um/plxels
圖像分辨率 768*576 plxels
掃描體積 2.125mm*1.593mm*100um
均方根值重復(fù)精度 <0.5nm
白光干涉儀型 號(hào) Sunny VSI | |
垂直測(cè)量分辨率 | 0.05um |
橫向測(cè)量分辨率 | 2.767um/plxels |
圖像分辨率 | 768*576 plxels |
掃描體積 | 2.125mm*1.593mm*100um |
均方根值重復(fù)精度 | <0.5nm |
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