Xpress型劃痕測試儀擁有非常友好的用戶使用界面，可以用于膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力以及傳統(tǒng)方法的硬度測量（顯微鏡觀測）。

Xpress型劃痕測試儀
 

　　儀器簡介：
 

　　快速劃痕測試儀REVETEST Xpress (1N - 200N)
 

　　快速劃痕儀REVETEST Xpress為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控提供了一種低成本的理想檢測手段。
 

　　Xpress型劃痕測試儀擁有非常友好的用戶使用界面，可以用于膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力以及傳統(tǒng)方法的硬度測量(顯微鏡觀測)。
 

　　REVETEST Xpress的簡約化設計為您的質(zhì)量檢測和產(chǎn)品開發(fā)部門提供了一種高效、可靠的手段。用戶可以通過與儀器配套的軟件自行定義測量參數(shù)，然后將這些自定義的測量參數(shù)導入一張USB盤中。您只需將此USB盤放入儀器內(nèi)置的USB標準接口，然后按下“開始”鍵來啟動您自定義的測試即可。測試結束后，用戶可以選擇直接在儀器上(如果儀器配套了光學顯微鏡選件)或使用用戶實驗室的其它光學顯微鏡分析實驗數(shù)據(jù)和劃痕形貌。
 

　　主要特點：
 

　　特點
 

　　金剛石針尖劃痕
 

　　閉環(huán)力學反饋控制
 

　　符合標準ASTM、C1624和EN 1071
 

　　選件
 

　　升級到Xpress Plus             
 

　　升級到標準配置的大載荷劃痕儀Revetest
 

　　CCD光學顯微鏡與顯示器
 

　　聲發(fā)射傳感器
 

　　深度傳感器