單點反射測量支架是一個探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。

單點反射測量支架是一個探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。

這一探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)63.5mm。

反射臺是電鍍臺面，表面刻有同心圓以確定直徑，用于放置圓形樣品。

規(guī)格

*指帶有同心圓刻度的區(qū)域，用戶也可利用整個基座的區(qū)域。