上市時(shí)間：2017-09-19

創(chuàng)新點(diǎn)：應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀
行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

檢測(cè)rohs的儀器下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)

檢測(cè)rohs的儀器

移動(dòng)樣品平臺(tái)
SDD探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

檢測(cè)rohs的儀器

性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：140±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

 

指令介紹

目前對(duì)于不同的電子材料，元件，板材等，業(yè)界主要還是各家公司自己的具體要求來執(zhí)行?，F(xiàn)在有兩種講法對(duì)于無鹵素，1.BSEN14582測(cè)試方法，這種根本測(cè)不出（<50ppm）的CI,Br；2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒有對(duì)總含量定義。有些公司定義的測(cè)試方法及測(cè)試樣品的選取都有不同，樣品數(shù)量太少的話，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果會(huì)有很大偏差。也有分產(chǎn)品中含有的鹵素是刻意添加（配方中的成分）及非刻意添加（雜質(zhì)）？這些具體的要求，目前法規(guī)還沒有明確定義，都是由各個(gè)廠家自己要求確定。
各標(biāo)準(zhǔn)組織的測(cè)試方法如下，
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法（Ion chromatography） 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法（Ion chromatography）
傳統(tǒng)只是對(duì)鹵化物有定義要求，采用鉻酸銀試紙，氟點(diǎn)測(cè)試等方法檢測(cè)只是對(duì)鹵化物的離子進(jìn)行定性的測(cè)試方法，如果要定量的話還得用離子層析法（Ion chromatography）。
無鹵素與無鹵化物不是一個(gè)概念，鹵化物是以游離的鹵素離子存在，而鹵素則可以共價(jià)的方式形成含有鹵素的化合物，并且用離子層析法（Ion chromatography）是測(cè)不到游離的鹵素離子存在的。所以，目前的鹵素測(cè)試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測(cè)樣品共價(jià)存在的鹵素破壞原先的結(jié)構(gòu)，使其變?yōu)橛坞x的離子形態(tài)的鹵素，可以被離子層析法（Ion chromatography） 檢測(cè)到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測(cè)到。
以上為鹵素標(biāo)準(zhǔn)*采用的測(cè)試方法；目前rohs測(cè)試主要是參考IEC62321文件來進(jìn)行的，IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測(cè)試方法，及XRF在rohs中的作用，并且注明了XRF測(cè)試結(jié)果如何判定是否符合標(biāo)準(zhǔn)，目前電子電器行業(yè)對(duì)于Cl，Br的測(cè)試是參考IEC62321文件來進(jìn)行的，判斷其結(jié)果是否符合標(biāo)準(zhǔn)也是按照此文件內(nèi)的30%的偏差來判斷的。