離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試并觀察線路是否有瞬間的短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況。

離子遷移試驗裝置是一種依賴性試驗設(shè)備 ，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE)，經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。