電路板高低溫老化實(shí)驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)、材質(zhì):

　　1.溫度控制儀表采用進(jìn)口觸摸屏，可編程微電腦PID控制SSR輸出運(yùn)行，全進(jìn)口超大液晶彩色觸摸屏幕畫面
　　2.控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示;
　　3.具有120組程式、每組99段、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段時(shí)間設(shè)定大值為99小時(shí)59分;

　　電路板高低溫老化實(shí)驗(yàn)箱特點(diǎn)：

　　采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無反作用把手，操作容易，可靠;

　　全封閉結(jié)構(gòu)，采用強(qiáng)力循環(huán)馬達(dá)，低嗓音冷凍裝置;

　　附有防震臺墊，使得機(jī)臺在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;

　　具有被測試件通電測試功能(負(fù)載測試);

　　采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)置耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗(yàn)情況;

　　具有多種保護(hù)裝置，性能可靠。

　　電路板高低溫老化實(shí)驗(yàn)箱參照標(biāo)準(zhǔn):

　　GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求;

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

　　GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法;

　　GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法;

　　GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn);

　　GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》;

　　GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;

《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》