我公司推出OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng)，OLED光譜性能測試系統(tǒng)，OLED發(fā)射光譜測量系統(tǒng)，OLED光譜分析儀，OLED光電性能測試系統(tǒng)（IVL曲線，外量子效率EQE），OLED載流子遷移率測量系統(tǒng)、光電性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)。

OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng)

應(yīng)用：
   有機發(fā)光器件OLED
   量子點LED
   鈣鈦礦LED等

主要測試功能：

   OLED效率測量/EQE測量，功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A；
   發(fā)射角度-光譜測量；
   光譜&顏色測量@發(fā)射角；
   CIE xyY和顯色指數(shù)CRI；
   可視角測量；
   IVL(電流—電壓—亮度)測量；
   PL光致發(fā)光和EL電致發(fā)光測量；
   p，s極性測量；

OLED發(fā)光效率測量系統(tǒng)

主要技術(shù)規(guī)格：
   角度范圍：-85°~+85°；
   光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;

主要特性：

1.PL和EL發(fā)射光譜特性的測量：

• 利用CIE xyY顏色空間展示OLED發(fā)光色度；
• 可計算出外量子效率EQE，流明效率Lm/W 以及發(fā)光效率Cd/A?
• 可視角測量；
• 發(fā)射角對應(yīng)的光譜和顏色；
• IVL電流-電壓-亮度曲線測量；
• 光致發(fā)光和極化；
• 可與Setfos組合，對發(fā)射層進行分析。

 2.發(fā)射區(qū)擬合：通過光譜角度的測量，以及材料的n,k層型結(jié)構(gòu)，計算擬合出OLED的發(fā)射區(qū)，得到分子取向的分布和發(fā)光方向。（擬合需要的信息：OLED所有層的厚度，OLED中所有材料的折射率n和消光系數(shù)k ）

 3.實時監(jiān)控

• 雙峰發(fā)射區(qū)；
• 高電流密度下，空穴傳輸層和發(fā)射層的變化；
• 頻率響應(yīng)、發(fā)射方向、老化過程的監(jiān)控