PHL雙折射測量儀PA-300是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。

PHL雙折射測量儀PA-300主要特點(diǎn)：

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

• 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。

• 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

• 維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。

• 高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

PHL雙折射測量儀PA-300應(yīng)用領(lǐng)域：

• 光學(xué)鏡片

• 智能手機(jī)玻璃基板

• 碳化硅，藍(lán)寶石等

技術(shù)參數(shù)：