動(dòng)態(tài)光散射粒徑分布測(cè)定裝置新型號(hào)，高靈敏度、高精度的測(cè)量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
 

動(dòng)態(tài)光散射粒徑分布測(cè)定裝置新型號(hào)，高靈敏度、高精度的測(cè)量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

粒子直徑測(cè)定：
超寬動(dòng)態(tài)光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國(guó)家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器，實(shí)現(xiàn)高性能化
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90度檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)
雙光路系統(tǒng)（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測(cè)量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測(cè)定

產(chǎn)品特點(diǎn)：
可測(cè)納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測(cè)定
HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池，可以測(cè)定僅100uL的Zeta電位
廣泛應(yīng)用于膠制粒子、機(jī)能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測(cè)定
取樣后，僅需按測(cè)定開始按鈕即可，操作簡(jiǎn)單

粒子直徑分布測(cè)定圖例

*（卵清蛋白） 醋酸緩沖劑pH4.3              鹽酸硫胺素（*1鹽酸鹽）
分子量：約14000                                              分子量：337 
濃度：0.1mg/ml                                               濃度：300mg/ml 
平均直徑：4.0nm             平均直徑：0.5nm

Zeta電位

NIST SRM1980 α-FeOOH   電泳遷移率：2.53±0.12umcm/Vs
<測(cè)定結(jié)果>電泳遷移率：2.53umcm/Vs，Zeta電位：32.9mV

LUDOX TM SiO2，0.01mol/L KCI
<測(cè)定結(jié)果>Zeta電位：-38.3mV