一、升溫迅速高溫介電溫譜儀組成部分
它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。它為樣品提供一個高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的測量系統(tǒng)。
二、升溫迅速高溫介電溫譜儀性能特點
可以實現(xiàn)常溫、高溫、低頻條件下測量塊體樣品的介電性能；
可以測量阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D等物理量；
可以直接測量介電常數(shù)和損耗，阻抗譜Cole-Cole圖；
集成一體化設計，觸摸屏控制和顯示，具有易用性；
電動升降平臺，彈簧電極系統(tǒng)，操作簡單，使用方便；
系統(tǒng)自帶溫度校準功能，讓測量溫度盡可能與樣品實際溫度保持一致；
系統(tǒng)采用PID模糊算法，具有控溫、超溫保護、一鍵自整定、故障診斷功能；
高溫條件下模擬導線，可有效增加測試的頻率帶寬，減小電爐絲的交流干擾
三、技術指標
溫度范圍：室溫-800℃，（反射爐加溫）配水冷機）；
控溫精度：±0.5℃；
測量精度：±0.25℃；
升溫斜率：1-800℃/min（*快可10秒達800度）；
降溫斜率：1-200℃/min（可自調(diào)整）；
頻率范圍：20Hz-1MHz；
測量精度：0.05%；
樣品規(guī)格：直徑：20mm以內(nèi)；厚度：5mm以內(nèi)；
電極材料：鉑金；
測量方式：2線-4線測量方式；
供電：220V±10%，50Hz；
工作環(huán)境：0℃-55℃；
存儲條件：-40℃-70℃；
尺寸：750mmX660mm×360mm；
重量：25kg
四、產(chǎn)品優(yōu)勢
華測公司為國內(nèi)針對新材料電性能檢測儀器全系列廠家，試驗效率高。
可實現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。
可實現(xiàn)小于±0.5℃溫度測量誤差（限反射爐），精度控制在±0.25℃以內(nèi)。
五、使用范圍
可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料高溫介電特性，可同時測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測量數(shù)據(jù)與圖形。
