高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測(cè)量過程中影響弱信號(hào)的采集，華測(cè)儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用最新特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測(cè)量,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測(cè)試需求。
設(shè)備優(yōu)勢(shì)
設(shè)備測(cè)量參數(shù)
ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部）、Y導(dǎo)納、Y’、Y''（導(dǎo)納實(shí)部與虛部）、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、等一系列測(cè)量參數(shù)及介電溫譜與頻譜等測(cè)試功能。
華測(cè)系列阻抗分析儀是華測(cè)儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前先進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。也*超越了國(guó)外同類儀器，在測(cè)量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。得益于先進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達(dá)5ms的測(cè)試速度及高達(dá)50M的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
阻抗分析儀測(cè)量&高溫爐基本參數(shù)
更強(qiáng)大的操作軟件
高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。支持最新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無須等待；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；
█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
█ 試驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)表格式，一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告，可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表。
不一樣的加溫方式及更多的應(yīng)用場(chǎng)景
