掃描電鏡能譜檢測(cè)標(biāo)樣X(jué)-Checker

X-Checker檢測(cè)標(biāo)樣是個(gè)并且保有全系列標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，可以應(yīng)用于監(jiān)測(cè)SEM/EDS系統(tǒng)性能。若想在較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)手頭儀器的的性能，請(qǐng)選擇X-Checker。

.錳的峰的半峰寬分辨率測(cè)量

.鋁和銅的光譜校準(zhǔn)

.碳用于光譜低值校準(zhǔn)窗口探測(cè)器

.高、低放大倍率的兩種鎳柵格（用于校準(zhǔn)圖像處理軟件和放大倍率）

.兩種柵格用于校準(zhǔn)圖像處理軟件和放大倍率，檢測(cè)探測(cè)器窗口是否有真空油的污染

.氮化硼檢測(cè)光譜低能量端的性能

.氟源檢測(cè)光譜低能量端的分辨率

.鈹（Be）柵格檢測(cè)高效探測(cè)器低能量端的靈敏度

規(guī)格：

測(cè)量誤差：±5％。

樣品臺(tái)基底：鋁。

尺寸：

周長(zhǎng)：1"或25.4 cm；高：7.5 mm）

鎳載網(wǎng)孔徑規(guī)格：40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm

產(chǎn)品信息：