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- 公司名稱 香港電子器材有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2021/3/2 20:01:13
- 訪問次數(shù) 409
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以色列 Camtek 自動光學(xué)檢測系統(tǒng) |
Camtek專業(yè)于設(shè)計、研發(fā)、生產(chǎn)以及主導(dǎo)高科技且符合成本效益的自動光學(xué)檢測設(shè)備(AOI)和相關(guān)軟體產(chǎn)品,以提高及加快生產(chǎn)過程和產(chǎn)能。Camtek致力于為電子封裝的各個領(lǐng)域提供產(chǎn)品,擁有的影像處理科技Camtek能針對各方不同需要,提供量身定做的解決方案,已在34個國家銷售超過3500套檢測系統(tǒng)。 |
Condor 100 系列 用于HVM at End-of-Line的晶圓表面檢測
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Condor 900系列 第五代高產(chǎn)量檢查及計量系統(tǒng)
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專為高產(chǎn)量需求、檢測和測量、解決要求的半導(dǎo)體市場應(yīng)用和快速發(fā)展3D-IC市場的理想選擇。 |
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2D機(jī)型Falcon 500系列
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• 晶圓樣品尺寸4"-12" • 檢測能力: 表面缺陷,probe mark,形體尺寸和位置測量,切割相關(guān)損害,玻 璃、MEMS結(jié)構(gòu)檢測等 • 2D小檢測缺陷精度可達(dá)0.3um • 自動進(jìn)行缺陷分級和分類 • TSV深度和Probe mark剖面圖 • 高效的在線和離線檢查,包括篩選、分類和自動化智能圖像采集 |
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3D機(jī)型Falcon 800系列
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• 晶圓樣品尺寸4"-12" • 檢測能力 : 凸塊高度和大小分析;共面性;gold bump布局; Solder bump數(shù)量;臨界 體積; 臨界尺寸和位置偏差 • 自動進(jìn)行缺陷分級和分類 • 選用亞微米高度傳感器 • 集成3D和2D測量和檢測功能 • 3D小檢測缺陷精度可達(dá)0.5um • 一片12"晶圓3D全檢在3分鐘左右完成 • 全套SPC圖表和報告,支持在晶粒、晶圓和批次級別進(jìn)行2D和3D Bump驗(yàn)證分 析 |
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