日本electron陰極發(fā)光探測(cè)器
將檢測(cè)器作為附件添加到您的SEM
檢測(cè)器是根據(jù)您的SEM制造的
與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)。
礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇

日本electron電子束三維測(cè)量?jī)xSDM-7501Ⅱ

日本electron電子束三維測(cè)量?jī)xSDM-7501Ⅱ

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特征 將檢測(cè)器作為附件添加到您的SEM 檢測(cè)器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測(cè)器 探測(cè)器 光電倍增器 波長(zhǎng)范圍 400-600納米 SED / CLD 開(kāi)關(guān)盒     特征 將檢測(cè)器作為附件添加到您的SEM 檢測(cè)器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測(cè)器 探測(cè)器 光電倍增器 波長(zhǎng)范圍 400-600納米 SED / CLD 開(kāi)關(guān)盒     特征 將檢測(cè)器作為附件添加到您的SEM 檢測(cè)器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測(cè)器 探測(cè)器 光電倍增器 波長(zhǎng)范圍 400-600納米 SED / CLD 開(kāi)關(guān)盒