光學(xué)斬波器應(yīng)用

單光束實(shí)驗(yàn)

在此應(yīng)用程序中，單個(gè)光束被插槽的外層行斬除，并利用來自右BNC的參考輸出將鎖定放大器鎖定到斬波頻率。還可以使用內(nèi)行插槽，在這種情況下，左BNC將是參考輸出。在任何一種情況下，引用模式開關(guān)都處于“向上”位置。

雙光束實(shí)驗(yàn)

在這種安排中，來自單個(gè)源的輸出被兩行斬波槽分割并以兩種不同的頻率被斬除。其中一束通過實(shí)驗(yàn)，另一束用作參考光束。這些光束被重新組合并發(fā)送到同一個(gè)探測(cè)器。使用兩個(gè)鎖定來檢測(cè)?上的信號(hào)。內(nèi)層，對(duì)應(yīng)于實(shí)驗(yàn)信號(hào)和?外，對(duì)應(yīng)于參考光束。如果實(shí)驗(yàn)臂中檢測(cè)到的信號(hào)與控制臂中檢測(cè)到的信號(hào)成正比，則消除因源強(qiáng)度和探測(cè)器效率變化而產(chǎn)生的影響。