YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電極，適用于一般片狀、薄膜狀樣品，可以測(cè)試壓電陶瓷材料和薄膜材料的電阻和電阻率，是研究材料的基礎(chǔ)設(shè)備。

YDZ-01壓電材料電阻率綜合測(cè)試儀（常溫）

YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電極，適用于一般片狀、薄膜狀樣品，可以測(cè)試壓電陶瓷材料和薄膜材料的電阻和電阻率，是研究材料的基礎(chǔ)設(shè)備。

適用范圍：

１、   壓電陶瓷絕緣材料電阻測(cè)

２、   壓電陶瓷絕緣材料電阻率測(cè)試

３、   薄膜材料電阻及電阻率測(cè)試

４、   壓電陶瓷材料及薄膜材料的表面電阻和體電阻測(cè)試

５、   也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

６、   壓電材料的高阻和低阻測(cè)試

二、參考方法：

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：

《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。

原理：環(huán)形三電極法 

三、基本技術(shù)參數(shù)

1. 電阻測(cè)量范圍：1.0×10²～ 2.0×10¹⁴  Ω,

分辨率；0.01×10²～ 0.01×10¹⁴  Ω

電 阻 率：Kv×（1.0×10²～ 2.0×10¹⁴ ）Ω-cm

分辨率0.01×10³～ 0.01×10¹⁴  Ω-cm，K=1～1000，修正系數(shù)。

方塊電阻：K×（1.0×10²～ 2.0×10¹⁴ ）Ω/□，

分辨率0.01×10³～ 0.01×10¹⁴ Ω/□，K=34.5，修正系數(shù)。

2.誤差：±10%

3.環(huán)形三電極和可測(cè)樣品尺寸：可測(cè)樣品尺寸直徑》90mm厚度≤10mm。

4．可以配和ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀和PZT-JH10/4，PZT-JH30/3型極化測(cè)試裝置

5．提供標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)片：1片

6. 含數(shù)據(jù)分析軟件：1套

7.電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤20W

8 外形尺寸： 35cm×15cm×30cm

9．重量：：≤3.2kg