調(diào)制熱成像分析儀調(diào)制熱成像分析儀T°Imager是一套交鑰匙，熱顯微成像系統(tǒng)，生成納米級(jí)分辨率的活躍電子學(xué)熱圖像

調(diào)制熱成像分析儀

調(diào)制熱成像分析儀T°Imager是一套交鑰匙，熱顯微成像系統(tǒng)，生成納米級(jí)分辨率的活躍電子學(xué)熱圖像。T°Imager調(diào)制熱成像分析儀利用熱反射率原理，將被測器件反射率的微小差異與溫度變化聯(lián)系起來，從而說明被測設(shè)備(DUT)的表面溫度變化。其全光學(xué)技術(shù)無需特殊的表面處理就能快速、地生成大型熱成像。利用近紫外、可見光和近紅外光譜中的光，T°Imager成像儀還可以對目前紅外技術(shù)透明或無法測量的材料進(jìn)行測量。

T°Imager成像測量頭首先將波長的一束光傳輸?shù)酱郎y器件(DUT)。然后，它利用一個(gè)與DUT調(diào)制同步的高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)相機(jī)來捕捉DUT的熱(開)和冷(關(guān))狀態(tài)的圖像。T°Imager調(diào)制熱成像系統(tǒng)將這兩對圖像之間的光強(qiáng)變化轉(zhuǎn)換為溫度差，并生成一個(gè)熱圖像，該圖像的像素分辨率為0.1 um (3.9E-6 in.)，可以顯示小至0.1 ℃(0.18 F)的變化。直觀的用戶界面允許用戶查看和定位DUT，方便地操作DUT激活設(shè)置，控制數(shù)據(jù)采集過程，保存和/或?qū)С錾傻臏囟葓?。該界面還提供了手動(dòng)對焦幫助，方便清晰的熱成像。

調(diào)制熱成像分析儀T°Imager基礎(chǔ)系統(tǒng)包括一個(gè)測量頭(帶有一個(gè)光端口和一個(gè)四位置物鏡塔臺(tái))、一個(gè)系統(tǒng)控制單元、一個(gè)照明源、一個(gè)系統(tǒng)機(jī)架站和一個(gè)大型計(jì)算機(jī)顯示器。T°Imager成像系統(tǒng)的緊湊的測量頭很容易安裝到客戶配備探測站與適配器板。額外的定制設(shè)備包括一個(gè)浮動(dòng)工作臺(tái)，以減少可能影響測量的環(huán)境振動(dòng)。

數(shù)據(jù)分析

調(diào)制熱成像分析儀T°Imager用戶界面包含對收集的數(shù)據(jù)執(zhí)行初始分析所需的所有工具。熱成像結(jié)果立即出現(xiàn)在窗口中，與被測設(shè)備的實(shí)時(shí)視圖相鄰。用戶可以從下拉菜單選擇可視化反射率的變化(ΔR / R), 熱調(diào)制反射系數(shù)(CTR),溫度的變化,而致發(fā)光強(qiáng)度測試設(shè)備表面。用戶還可以在視圖域中創(chuàng)建垂直和水平跟蹤，以生成結(jié)果的線圖。TMX Scientific還提供了T Pixel，這是一個(gè)深入的獨(dú)立軟件應(yīng)用程序，提供的像素分析和逐像素校準(zhǔn)。

多功能和定制化

調(diào)制熱成像分析儀T°Imager的模塊化設(shè)計(jì)使其能夠根據(jù)您的需要輕松地開發(fā)擴(kuò)展。不同的光源選擇，并考慮升級(jí)到校準(zhǔn)包或瞬態(tài)包，以充分利用系統(tǒng)的功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)： 

• 大熱成像尺寸： 達(dá)1000×1000pixels

• *的空間分辨率：0.2 µm(7.8E-6 in.)

• 速度：數(shù)秒內(nèi)完成完整的亞微米熱成像

• 溫度精度：優(yōu)于實(shí)測溫度變化的3%以內(nèi)

• 交鑰匙操作 

• 無需表面處理或噴涂

• 測量對紅外線透明的材料

• 非接觸，全光接近

• 模塊化設(shè)計(jì)

• 便攜性好:緊湊，探測站可安裝

• 靈活性高：可調(diào)觸發(fā)設(shè)備激活

• T°Viewer軟件包

• 瞬態(tài)能力(含瞬態(tài)包)

• 新穎的逐像素校準(zhǔn)(使用T°像素™和校準(zhǔn)包)

• 納米級(jí)動(dòng)態(tài)對齊(使用T°Pixel™或校準(zhǔn)包)

  
  

應(yīng)用領(lǐng)域

• 測量有源電子和光電子器件(MEMS)的表面溫度場

• 測量任何類型的外部調(diào)制和可控加熱微尺度結(jié)構(gòu)的表面溫度場

• 驗(yàn)證微電子器件和集成電路的熱設(shè)計(jì)

• 根據(jù)熱成像進(jìn)行質(zhì)量控制

• 定位熱點(diǎn)和測量振幅

• 診斷產(chǎn)生熱點(diǎn)的缺陷

• 電致發(fā)光監(jiān)測