Stemi 508 是一款采用 Greenough 光路設(shè)計的高效實用型體視顯微鏡，具有堅固耐用的特點。 其配備的復(fù)消色差光學(xué)元件令圖像具有出色的色彩精度和均勻性。 精密機械裝置專為任務(wù)繁重的工作而設(shè)計。 8:1 的大變倍比讓您能夠獲得 36 mm 的視野， 再借助高達 50 倍的放大倍率獲得更多的細節(jié)信息。 通過增加可更換式光學(xué)元件，可觀察** 122 mm 的樣品。相比于其它采用 Greenough 光路設(shè)計的體視顯微鏡，Stemi 508 更符合人體工學(xué)設(shè)計： 35° 低視角能讓您以舒服的坐姿觀察，即便長時間使用也不會感到疲勞。

使用 Stemi 508 觀察和記錄樣品本貌：豐富的細節(jié)信息、圖像清晰、無變形或無彩色條紋。 它是日常實驗室和工業(yè)檢測工作中一款堅固耐用的得力工具。

多種不同的主機類型和配件可選，為應(yīng)用選配合適的顯微鏡。

性能特點

大視野和復(fù)消色差校正

Stemi 508 擁有復(fù)消色差變倍光學(xué)元件與高效雜散光**功能，讓您能夠獲得清晰的三維圖像，無變形且無彩色條紋。
高達 121 mm 的觀察視野。 8:1 的變倍比使樣品的細微結(jié)構(gòu)在高襯度下清晰可見。
可更換的復(fù)消色差前置光學(xué)元件和目鏡，使放大倍率可達 2× 至 250×。 分辨率提高兩倍或擁有高達 287 mm 的長工作距離，并且始終保持出色的圖像質(zhì)量——一切取決于您。
專為繁重工作設(shè)計的精密儀器

Stemi 508 具有堅固耐用的機械特性，適合繁重的工作。
獲得出色的三維圖像：無論是連續(xù)變倍或在可重復(fù)模式下啟用變倍調(diào)節(jié)器，均能在整個放大倍率范圍內(nèi)清晰地聚焦圖像。
相比于其它采用 Greenough 光路設(shè)計的體現(xiàn)顯微鏡，Stemi 508 的 35° 低視角設(shè)計更符合人體工學(xué)。 舒服的坐姿使您長時間使用顯微鏡也不會感到疲勞。
為您的所有應(yīng)用量身定制

無論是高效實用型主機架或靈活穩(wěn)定的萬向主機架，透射光或偏光，均可滿足您的應(yīng)用需求。
裝配滑動載物臺、傾斜式載物臺或旋轉(zhuǎn)偏光載物臺**定位樣品。
Stemi 508 doc 包含一個 c 型適配器，可方便安裝蔡司 Axiocam 相機——或者使用其它適配器連接安裝任一款單反相機或攝像機
K 型主機——高效實用、一體化設(shè)備、內(nèi)置照明光源

K 型主機占地面積小且集成了 LED 光源，這使 Stemi 508 成為高效實用型的一體化設(shè)備。操作方便，裝卸快捷。
K EDU 型主機是課堂教學(xué)的理想之選，扁平的透射光底座適用于明場和暗場。
K LAB 型主機通過可傾斜和可移動的透射光反射鏡，提供明場、單側(cè)暗場和斜照明。此外，還有偏光可選。
K MAT 型主機，優(yōu)化了 Stemi 508 在質(zhì)量控制或小型零部件裝配應(yīng)用中的設(shè)計，可控制反射光，機身有防靜電涂層。
N 型主機架——設(shè)計精良的主機架、載物臺、性能優(yōu)良的光纖元件

N 型主機架配有大型底座、350 或 450 mm 高的顯微鏡支柱及 Stemi 連接件，通過大占地面積或增加高度來實現(xiàn)樣品的**聚焦。
Stemi 508 可選配萬向式載物臺、滑動式載物臺和旋轉(zhuǎn)偏光載物臺，來傾斜、移動或旋轉(zhuǎn)樣品。
CL4500 LED 型冷光源可提供日光色，尤其適用于色彩要求嚴格的應(yīng)用。 為獲得特殊的照明，可選環(huán)形光以獲得無陰影的明場或暗場照明；單點和雙點光源以獲得具有不同陰影效果的照明；線形光源以獲得落射照明；漫射光源以避免高亮度照明；與偏光組件組合可消除反射。
萬向主機架——穩(wěn)定、靈活、大工作距離

使用萬向主機架觀察大型樣品，在感興趣的區(qū)域內(nèi)查找和檢測樣品細節(jié)，或在工作場地快速靈活地調(diào)整顯微鏡的位置。
配有伸長臂的大型主機架使 Stemi 508 能夠移至工作區(qū)域內(nèi)的任意位置。 并始終保持足夠的穩(wěn)定性，以流暢穩(wěn)定的圖像獲得樣品的細節(jié)。
選擇配有單伸長臂的 A 型萬向主機架或配有雙伸長臂的穩(wěn)定且方便移動的滾珠軸承式 SDA 型萬向主機架。 或者選配有彈簧平衡傾斜臂的 U 型主機架，其高度和靈活性得到很好地平衡，可移動至大型樣品的任一點位置。
應(yīng)用領(lǐng)域

材料檢測：檢測材料的裂紋和缺陷。用于檢測金屬或復(fù)合材料的組織結(jié)構(gòu)、失效分析等。
微電子技術(shù)領(lǐng)域：在高倍下檢測集成電路，要求具有充足的工作距離。
半導(dǎo)體行業(yè)：芯片刻蝕后檢測探針的布局和排序，保證**的大景深3D成像。
醫(yī)學(xué)技術(shù)：檢測模制品的微小偏差（、O型環(huán)、等）——要求在高倍下觀察，并具有足夠的工作距離。
藥物：檢測雙折射蛋白晶體的形成；檢測粉狀物質(zhì)的純凈度和不規(guī)則組織。
琉璃纖維技術(shù)：涂層檢測；小型機械零部件的幾何形態(tài)測定；微型透明導(dǎo)體成像，保證高分辨率和完善的色差較正。
法醫(yī)學(xué)：織物、頭發(fā)和其他痕跡的分析；粉狀物質(zhì)（藥）的檢測和分析，以用于鑒定真實情況。
文物修復(fù)：鑒定和處理顏料涂層；大樣品上的顏料殘留物分析、鑒定——要求具有高分辨率、較好的對比度，以區(qū)分輕微的結(jié)構(gòu)偏差。