Z-scan測試系統(tǒng)|價格|型號|廠家-儀器網(wǎng)

參考價	面議

促銷時間：

特價說明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

Z-scan測試系統(tǒng) _________________________________________________產(chǎn)品介紹Z-掃描系統(tǒng)是研究材料非線性光學(xué)特性的有效手段，具有測量速度快、靈敏度高(參見融石英和CS2實(shí)例)和易維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)。該系統(tǒng)可用于測量分析高分子、有機(jī)材料、納米粒子和半導(dǎo)體等材料的光學(xué)非線性特性, 包括非線性吸收（飽和吸收和反飽和吸收）、非線性折射和克爾效應(yīng)等。此外，針對不同尺度的復(fù)合納米粒子和微晶等材料，儀器的高靈敏性還適用于考察材料的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和濃度對非線性光學(xué)特性的影響。

主要參數(shù)：

1) 適用激光光源

納秒、皮秒、飛秒激光光源；使用波長取決于用戶激光器探測系統(tǒng)

2) 樣品移動模塊

（全系列標(biāo)配）移動距離300 mm，移動精度3.125μm主控系統(tǒng)

3) 適用樣品

溶液、薄膜；不同形態(tài)、尺寸和結(jié)構(gòu)的納米材料和微晶等儀器控制和微晶等

4) 光強(qiáng)范圍

取決于所搭配的激光光源的參數(shù)（時間寬度和束腰半徑等）

5) 探測系統(tǒng)

標(biāo)配快速響應(yīng)的高靈敏度探測器：上升時間約35ns @320-1100nm

6) 隨機(jī)程序