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Mcpherson 平場光譜儀XUV, Soft X-ray and Extreme Ultraviolet (EUV)

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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 北京埃光科技有限公司
品牌
型號
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/2/21 14:14:32
訪問次數(shù) 54

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

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商品描述McPherson251MX使用具有非球面波前記錄的球形基底光柵，用于覆蓋軟X射線區(qū)域的像差校正的高分辨率平場光譜儀

詳細信息在線詢價

商品描述

McPherson 251MX使用具有非球面波前記錄的球形基底光柵，用于覆蓋軟 X 射線區(qū)域的像差校正的高分辨率平場光譜儀。是軟 X 射線、極紫外 (EUV) 和真空紫外光譜分析的理想選擇。長焦距和垂直的光譜線提供出色的光譜分辨率。高品質(zhì)光柵隨時可供使用，并可與您感興趣的能量范圍相匹配。 251MX配合直接探測 CCD 檢測器可實現(xiàn)快速、簡單的高能光譜探測。微通道板 (MCP) 增強器可用于需要門控或部分 HHG 實驗中。

使用MCP/CCDs可以直接探測的平場光譜儀

快速的采集數(shù)據(jù)

高真空至10^-6 torr

支持高真空選項

Model 251MX PDF Data Sheet | Model 251MX Grating Selection

Optical Design	McPherson Model 251MX Spectrograph
Focal Plane Length	~25mm
Angle of Incidence	87 degrees (< 3 degrees grazing)
Detector Position	micrometer slide and rotatable
Grating Mount	2-position, adjustable in vacuum
Zero Order Baffle	standard, adjustable in vacuum
Entrance Slit	continuously variable from 10um to 3mm, adjustable in vacuum
Wavelength Range	refer to grating of interest for range

Model 251MX Grating Selection (up to 2-gratings may be installed)

Grooves/mm	120	300	1200	2400
Deviation Angle Degrees	170	170	170	174.4
Resolution (nm)	~ 0.3	~ 0.12	~ 0.028	~ 0.01
Focal Plane Width (mm)	25	25	25	20
Spectral Range (nm)	50 to 200	20 to 80	5 to 20	1 to 5
Spectral Range (eV)	25 to 6	65 to 15	248 to 62	1240 to 248