1、第二代CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術(shù)通道不受限制；

2、升級多基體方便，無須變動(dòng)增加硬件；

3、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性；

4、體積小、重量輕， 移動(dòng)安裝方便；

5、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性；

6、性價(jià)比高；

主要特點(diǎn)

1、可測定各種有色金屬的各種元素,適用于多種金屬基體，如：鋁基、銅基、鋅基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；

2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果；

3、光學(xué)系統(tǒng)采用恒溫光室，激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性好；

4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，體積小、重量輕；

5、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識別特定譜線，與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定；

6、開放式的電極架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

7、工作曲線采用國際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動(dòng)扣除干擾；

8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；

9、銅火花臺底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能；

10、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶節(jié)省氬氣，氬氣消耗不到普通光譜儀的一半；

11、采用鎢材料電極，電極使用壽命長，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極容易；

12、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀況；

13、與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接，抗干擾性能好，外部計(jì)算機(jī)升級與儀器配置無關(guān)，使儀器具有好的適用性；

14、核心器件全部，保證了儀器的品質(zhì)。