手持式XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能X光管和大面積硅漂移探測(cè)器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場(chǎng)上所有的金屬分析應(yīng)用需求

手持式 XRF合金分析儀X-MET8000將日立HITACHI的高性能 X 光管和大面積硅漂移探測(cè)器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場(chǎng)上所有的金屬分析應(yīng)用需求。

X-MET8000 手持式合金分析儀是檢驗(yàn)及制造行業(yè)中，進(jìn)行廢舊金屬回收、貴金屬及珠寶分析、材料可靠性鑒定（PMI）的理想工具。

X-MET8000系列有三種型號(hào)，可滿足不同的分析需求和資金預(yù)算需求

簡(jiǎn)單的“對(duì)準(zhǔn)即測(cè)”操作，使用方便, 測(cè)試時(shí)間靈活選擇

直觀的大圖標(biāo)式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓(xùn)

大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽(yáng)光直射下也能清晰地看到檢驗(yàn)結(jié)果。操作簡(jiǎn)單方便，戴上手套也不受影響

符合IP54 等級(jí)（相當(dāng)于 NEMA 3），能夠適應(yīng)的環(huán)境

加強(qiáng)型防護(hù)窗口（用于Expert 及 Optimum）可防止X射線管和探頭在測(cè)試小部件和尖銳物體時(shí)受損

可快速更換防護(hù)窗口：無(wú)需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口

可按客戶要求定制檢驗(yàn)結(jié)果模式，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息，例如合號(hào)、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的顯示順序

時(shí)尚精巧的設(shè)計(jì)

可選配相機(jī)，有助于準(zhǔn)確定位測(cè)量

大量可自定義的牌號(hào)庫(kù)