nanome|x
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- 公司名稱 英華檢測(上海)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/4/28 15:43:49
- 訪問次數(shù) 75
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phoenixnanome|x——超高分辨率的納米焦點X射線檢測系統(tǒng),設計用于檢測半導體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連該系統(tǒng)具有良好的性能和多功能性,可用于二維X射線檢測,以及全三維計算機斷層掃描(nanoct)
phoenix nanome|x
—— 超高分辨率的納米焦點X射線檢測系統(tǒng),設計用于檢測半導體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連
該系統(tǒng)具有良好的性能和多功能性,可用于二維X射線檢測,以及全三維計算機斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包, phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng),用以確保滿足目前和未來的要求。
特色
主要功能
顧客利益:
處理器箱內(nèi)倒裝芯片焊點的納米焦點X射線圖像。 圖像顯示一個焊橋和幾個開放的焊點。 焊點直徑大約為 150 µm
半導體與其他電子元件
4000 個溫度應力周期后 µBGA的nanoCT® 。 由于有0.5微米的體素尺寸,可以檢測到8 到小于1微米的裂縫
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