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工業(yè)納米CT nanotom m

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phoenixnanotomm——適用于材料科學(xué)、傳感/電氣工程、測量技術(shù)、地質(zhì)/生物等領(lǐng)域phoenixnanotomm是一個nanoCT系統(tǒng)用于科學(xué)與工業(yè)計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)與眾多樣品范圍的三維測量

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phoenixnanotomm


——適用于材料科學(xué)、傳感/電氣工程、測量技術(shù)、地質(zhì)/生物等領(lǐng)域
       phoenixnanotomm是一個nanoCT系統(tǒng)用于科學(xué)與工業(yè)計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)與眾多樣品范圍的三維測量。憑借其專門設(shè)計的180千伏/15瓦的帶有內(nèi)部冷卻和溫度穩(wěn)定的數(shù)字檢測器的高功率納米焦點X射線管,系統(tǒng)的實現(xiàn)了樣品和應(yīng)用范圍的的空間和對比分辨率-從小的生物和地質(zhì)標(biāo)本,到中等大小的工業(yè)組件如注射口或注塑成型的塑料零件-也具有金屬嵌體。CT掃描的全自動執(zhí)行、再現(xiàn)和分析過程確保了其易用性以及快速和可靠的CT結(jié)果。一旦已掃描,全三維CT信息可使分析具 有許多可能,例如切片的無損可視化、任意剖視圖、或自動孔隙分析。由于對物體的整個幾何形狀進行掃描,對復(fù)雜物體進行判斷且可再現(xiàn)的三維測量,以及在一個小時內(nèi)自動生成檢測記錄是可能的。


特色


主要功能

  • 源于的溫度穩(wěn)定的數(shù)字DXR檢測器(3072x 2400像素)的的圖像質(zhì)量用于高動態(tài)范圍>10,000:1
  • 新的開放的180千伏/15瓦高功率納米焦點X射線管具有高達200納米的細節(jié)探測能力和內(nèi)部冷卻-對長期穩(wěn)定性來說是的
  • 用于三維測量應(yīng)用的測量束包括:    溫度穩(wěn)定的機柜;高度直接測量系統(tǒng);操作器的防振;菱形|窗口;2個校準(zhǔn)目標(biāo);phoenixdatos|x2.0軟件包“點擊&測量CT”與三維“測量"


顧客利益

  • 樣品范圍的的空間和對比分辨率-從小的材料到中等大小的包含3個數(shù)量級(0.25毫米到250毫米樣品尺寸與3千克/6.6磅樣品重量)的塑料樣品
  • 三維測量包用于穩(wěn)定的獲取條件、幾分鐘之內(nèi)的快速重建和可重復(fù)的測量結(jié)果
  • 易用性源于系統(tǒng)設(shè)計與的phoenixdatos|x2.0CT軟件
  • 菱形|窗口可達到焦點穩(wěn)定性并以同樣的高圖像質(zhì)量水平進行快達2倍的數(shù)據(jù)采集


應(yīng)用





           三維計算機斷層掃描

工業(yè)X射線三維計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。然而,phoenix|X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
SMD感應(yīng)器的nanoCT,尺寸0805(2.0毫米x1.2毫米).三維X射線圖像顯示了后蓋后的內(nèi)部線圈。在任何常規(guī)的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT成功地將對象逐層顯示。



                            

測量
用X射線進行的三維測量是特殊的可對復(fù)雜物體內(nèi)部進行無損測量的技術(shù)。通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)的對比,對一個物體進行計算機斷層掃描的同時可獲得的曲面點-包括很多無法使用其他測量方法無損進入的隱蔽形體,如底切。v|tome|xs有一個特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的任何工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的更大精度,可再現(xiàn)且易于使用.除了二維壁厚測量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合要求的規(guī)定尺寸。


圖為對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量



           

材料科學(xué)


高分辨率計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對地質(zhì)或生物樣品進行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT:纖維氈(藍色)的纖維方向和基質(zhì)樹脂(橙色)會顯示出來。右邊:樹脂內(nèi)的空洞會以暗腔出現(xiàn)。左邊:樹脂已逐漸消失,以更好地使纖維氈可視化,氈內(nèi)的單根纖維是可見的。




             

塑料工程
在塑料工程中,高分辨率的X射線技術(shù)用于通過探測縮孔、氣泡、焊接線和裂縫并分析漏洞來優(yōu)化鑄造和噴涂過程。X射線計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)提供具有以下物體特點的三維圖像:如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。

玻璃纖維增強塑料樣品的nanoCT:玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。纖維大約有10微米寬。




       

傳感器和電氣工程
在傳感器和電子元件的檢測中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。它甚至可以檢測半導(dǎo)體元
件和電子設(shè)備(焊點),而無需拆卸設(shè)備。

nanoCT顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的三維形狀,大約直徑400微米,空隙分布清晰可見。焊接接點內(nèi)部,不同的共晶焊料相是可見的。



             

地質(zhì)/生物科學(xué)


高分辨率計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)用于檢測地質(zhì)樣品,例如新資源的探索。高分辨率CT系統(tǒng)以微觀分辨率提供巖石樣本、粘合劑、膠合劑和空洞的三維圖像,并幫助確認特定的樣本特征,如含油巖石中空洞的大小和位置

碳酸鹽中的分段氣孔(?2毫米)





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